高低温冲击测试箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具。

概述：该高低温冲击测试箱适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提高产口的可靠性和进行产品的质量控制。

冷冻及风路循环系统：

该高低温冲击测试箱采用多翼式送风机强力送风循环系统，避免任何死角，可使测试区域内温度分布均匀。

风路循环出风回风设计，风压、风速均符合测试标准，并可使开门瞬间温度回稳时间快。

制冷系统及压缩机：为了保证试验室降温速率和zui低温度的要求本试验采用一套/单个法国“泰康"或德国“比泽尔"全封闭或半封闭单元/二元复叠式制冷系统压缩机所组成。  

 制冷剂：采用美国杜邦公司产R404A（低压循环）、R23（高压循环）环保制冷剂。 

 制冷辅助件：膨胀阀（丹麦)；电磁阀（日本)；过滤器（丹麦)；压力控制器（丹麦)；油压保护（丹麦）以及油分离器（欧美）等辅助件。

结构特点：

1、试验箱配置Ø50mm,测试孔，配发泡硅胶塞密封，可外接测试电源线或信号线使用。

2、机器底部采用高品质可固定式PU活动轮，附水平脚。

3、可以独立设定高温、低温、冷热冲击三种不同条件，具备高低温试验机的功能。

4、可设定循环次数及除霜次数自动（手动）除霜.出风口于回风口感知器检测控制，风门机构切换时间为10秒内完成。

5、具备全自动，高精密系统回路、任一机件动作，*有P.L.C锁定处理，全部采用P.I.D自动演算控制。

6、温度恢复时间为5分钟内完成。

7、运转中发生异常状况时,萤幕上即刻自动显示故障原因，并于发现输入电力不稳定时,具有紧急停机装置。

8、可选配USB接口存储方便，到有标准的RS-232或RS-485计算机通讯接口。实现远程控制。

9、箱体外壳：采用优质彩钢板，美观，平整，大气，圆弧型设计，线条流畅自然，设计合理，经久耐用。

10、工作室内壁：采用优质304镜面不锈钢材料，使用国内目前的加工设备加工成型。

11、保温层：使用硬质PU发泡和硅酸铝棉，硅酸铝棉比同类玻璃纤维棉具有耐高温，传热系数低等特点，保温层厚度为100mm，确保试验室内温度不会传到设备外体，使得试验试验温度更精准。

性能参数：

型号：BY-260D-225

规格：225升

测试区尺寸（W*H*Dmm）：500*600*750

外型尺寸（W*H*Dmm）：1800*1800*2000

电源：AC  380V（1+10%）V  50+0.5HZ  三相四线+保护地线

1、高温储热范围：+60℃·+200℃

2、低温储冷范围：-10℃～-55℃（A型） , -10℃～-65 ℃（B型） ,-10℃～-75℃（C型）

3、试验范围：

高温：+60℃~+150℃

低温：-10℃~-40℃（A型）；-10℃~-55℃（B型）；-10~-60℃（C型）

4、升温时间：+60℃~+200℃约需25min

5、降温时间：+20℃~-55℃小于60min；+20℃~-65℃小于75min；+20℃~-75℃小于90min；

6、风门切换时间：小于或等于10S

7、温度恢复时间：5min

8、温度波动：±0.5℃

9、温度偏差：±2℃

型号解释：如：BY-260D-225A指的是，温度为-10℃~-40℃，内箱为225L

225A位-----箱内体积和温度范围（相对应的数字代表内箱体积，单位为：L）

字母代表范围：-10℃~-40℃（A型）；-10℃~-55℃（B型）；-10~-60℃（C型）

注：试验箱的外箱尺寸根据选择的外观不同而调整。